摘要：采用时间相关单光子计数原理搭建荧光寿命测量光学系统,实验验证了单量子点发射荧光的单光子性。针对石英玻片、硅片、金膜等不同基片上多处具有单光子荧光发射特性的单量子点,对其发射荧光的寿命进行了测量、对比,计算了不同基片上单量子点发射荧光的衰减速率、量子产率等与量子点到基片有效距离的相关性,解释了实验数据。此外,分析了石英玻片、硅片、金膜上单量子点发射荧光的闪烁行为,结果表明不同基片对单量子点单光子荧光的闪烁与衰减速率具有调控作用。

关键词：材料 量子点 荧光增强 荧光闪烁 单光子 

单位：南开大学电子信息与光学工程学院现代光学研究所光学信息技术科学教育部重点实验室; 天津300350; 天津大学精密仪器与光电子工程学院精密测试技术及仪器国家重点实验室; 天津300072