线上期刊服务咨询,发表咨询:400-808-1701 订阅咨询:400-808-1721

Mettler天平的校准技术

中国计量 2008年第06期

摘要:本文将介绍Merrier天平的各种校准技术,并重点介绍Mettler先进的专利校准技术FACT和ProFACT。

关键词:校准技术mettler天平计量仪器天平传感器自动检测

单位:梅特勒-托利多仪器(上海)有限公司

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

中国计量

部级期刊

¥408.00

关注 46人评论|5人关注