摘要：以玉米（Zea mays L．）S型细胞质雄性不育系（CMS-S）的1对近等基因系S-Mo17^Rf3Rf3和S-Mo17^rf3rf3为材料，采用TdT介导的dUTP DNA末端标记（TUNEL）、细胞色素C免疫原位杂交和DNA寡聚核小体片段电泳等方法，分别在细胞学水平和DNA水平上研究了玉米CMS—S小孢子败育的细胞程序性死亡（PCD）过程。结果表明，在花粉母细胞减数分裂后的四分体解离时期，不育花药的绒粘层细胞较可育花药提前裂解；在不育系S-Mo17^rf3rf3花药和花粉S-rf3中均明显出现PCD过程的DN段化以及线粒体细胞色素C外渗的现象，证明玉米CMS-S的花粉败育与花药绒粘层细胞的提前凋亡和小孢子细胞的程序性死亡有关。

关键词：mays 细胞质雄性不育 tdt介导的dutp dna末端标记 细胞色素c 

单位：华中农业大学作物遗传改良国家重点实验室; 湖北武汉430070; 河北农业大学农学院; 河北保定071001