摘要：以水稻Ⅱ优3027（耐铝基因型）和红良优166（铝敏感基因型）为材料,采用悬空培养法,在根尖附着和移除边缘细胞（root border cell,RBCs）条件下,比较研究水稻生长、根尖铝含量和细胞壁组分含量变化及其与耐铝性的关系。结果表明,铝抑制水稻根系伸长,导致根尖和细胞壁铝积累。移除根尖边缘细胞令根伸长抑制率、根尖胼胝质含量、根尖和细胞壁铝含量及细胞壁单核铝含量显著低于保留边缘细胞的根。此外,对比于根尖移除边缘细胞,保留边缘细胞降低了细胞壁中果胶和半纤维素1含量,而对半纤维素2含量无影响。表明铝毒胁迫下水稻根尖由于附着边缘细胞,阻止了根系铝吸收,并维持较低的细胞壁果胶和半纤维素1含量,减少细胞壁吸附铝的位点。同时也减少了根尖毒性形态铝的含量,降低了铝的生物有效性,从而提高了水稻的耐铝性。

关键词：水稻 铝毒 边缘细胞 铝形态 细胞壁多糖 

单位：金华职业技术学院农业与生物工程学院; 浙江金华321007; 浙江师范大学化学与生命科学学院; 浙江金华321004