摘要：利用原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）研究硫酸盐还原菌（Sulfate Reducing Bacteria，SRB）、微生物膜和腐蚀前后铜合金材料BFe30—1—1的表面形貌，得到了高分辨率的表面形貌图，测得SRB的大小、点蚀坑的深度和直径，分析了腐蚀后BFe30-1—1的表面粗糙度参数。结合电化学参数说明，浸蚀14d的铜合金表面形成了不均匀的微生物膜，加速了试片表面的局部腐蚀。AFM作为一种具有纳米级分辨成像能力的工具，是观察材料的表面特征和腐蚀形貌及测量材料表面纳米粗糙度的理想仪器。

关键词：原子力显微镜 硫酸盐还原菌 微生物膜 腐蚀 

单位：北京交通大学土木建筑工程学院; 北京100044; 军事医学科学院仪器测试中心; 北京100850