摘要：本文提出了一种基于单元结构的四端口网络S参数和周期性结构的Bloch理论来分析二维平面分布参数左手结构的新方法，以及基于Bloch波数和Bloch阻抗来判断左右手特性频带的新方法．与以往的单元结构分析方法相比，本文方法有利于单元结构的灵活设计，能较好地考虑分布参数元件色散特性，能简便准确地判断出左右手特性频带，且能用于分析各向异性和有损耗结构．作为例子，我们设计了一种串联电容增强型平面左手结构，并用本文方法进行分析，清楚地得到了该结构的左右手特性频带．本文还采用时域有限差分方法（FDTD）对这种新型平面结构阵列进行模拟，在左手特性频带内得到了后向波传播特性，从而验证了本文方法的有效性．

关键词：二维平面左手结构 s参数 bloch波数 bloch阻抗 后向波 

单位：中国科学院电子学研究所; 北京100080; 中国科学院电子学研究生院; 北京100080