摘要：文章提出一种简单可行的高频电大尺寸天线辐射测量新方法.该方法基于天线形面光学精密测量,将形面分为多个区域,每个区域带入实际光学测试采样点数据,采用电磁场数值计算得到天线的辐射方向图.光学测试系统提供了足够高的测试精度可以满足微波、毫米波甚至太赫兹等频段天线的测试要求.该方法还可以解决超大型可展开天线测试以及模拟星载环境实验条件下天线辐射测试难题.

关键词：电大尺寸 光学测试 天线方向图 太赫兹 

单位：中国科学院微波遥感重点实验室; 北京100190; 中国科学院大学研究生院; 北京100190