电子产品可靠性与环境试验杂志社地址：广州市增城区朱村街朱村大道西78号。
杂志社邮编：511370。
电子产品可靠性与环境试验杂志于1980年创刊， 国际刊号：1672-5468， 国内刊号：44-1412/TN， 现如今被知网收录(中)、维普收录(中)、万方收录(中)、上海图书馆馆藏、国家图书馆馆藏、等收录， 是一本电子类部级期刊， 刊期为双月刊， 影响因子为0.71。
杂志所获的荣誉有：中国期刊全文数据库（CJFD）、Caj-cd规范获奖期刊、中国优秀期刊遴选数据库、中国学术期刊（光盘版）全文收录期刊、等。
杂志主要发文方向有：自动化技术及设备、计算机科学与技术、计量与测试技术、可靠性与环境适应性理论研究、可靠性与环境试验技术及评价、仿真建模与分析、软件可靠性与评测技术、可靠性设计与工艺控制、电子、电路设计与应用等、等。
杂志主要发文主题有哪些？
| 主题名称 | 发文量 | 相关发文学者 |
| 可靠性 | 1037 | 陈昭宪；孔学东；恩云飞；蔡少英；莫郁薇 |
| 电路 | 298 | 罗宏伟；孔学东；贾新章；恩云飞；焦慧芳 |
| 电子产品 | 224 | 彭求实；朱文立；廖小雄；解江；郭远东 |
| 子产 | 179 | 彭求实；朱文立；廖小雄；郭远东；周敏 |
| 集成电路 | 179 | 罗宏伟；孔学东；莫郁薇；恩云飞；贾新章 |
| 元器件 | 169 | 陈昭宪；郑丽香；聂国健；彭苏娥；丁春光 |
| 电子元 | 141 | 陈昭宪；彭苏娥；蔡少英；郑丽香；聂国健 |
| 电子元器件 | 122 | 陈昭宪；彭苏娥；蔡少英；郑丽香；聂国健 |
| 网络 | 122 | 丁定浩；张昊；潘勇；程德斌；杨碧仪 |
| 芯片 | 115 | 林晓玲；黄云；何小琦；孔学东；陈波 |
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