摘要：IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计（DFT）技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能。本文以IEEE1149.4标准为基础,结合混合信号边界扫描测试系统进行了测试验证,完成对混合信号电路的参数测试。

关键词：abm tbic 边界扫描单元 

单位：北方工业大学信息工程学院微电子中心 北京100144 北京自动测试技术研究所 北京100088