摘要：本文通过对自动测试设备/系统（ATE/ATS）现状的分析,指出了当前ATE/ATS存在的主要问题。找出了当前自动测试系统通用性差和可移植性差的原因。对IEEE1641（STD）提出的背景、层次结构和目的进行了简要的介绍。分析了STD在通用ATS中的应用范围,通过对被测单元（UUT）和测试程序（TP）的研究,提出了信号层的概念,隔离了TPS与硬件的关系,为实现面向信号编程提供了条件,为通用自动测试系统（GPATS）的开发与设计奠定了理论基础。最后通过ATML系列标准和STD结合实例说明了STD在测试程序中的应用范围,证明了STD对于提高测试程序的可移植性的能力,并为今后STD的发展指出了方向。

关键词：std 面向信号 atml 

单位：海军工程大学电子工程学院 湖北武汉430033 海军装备技术研究所 北京102442