摘要：对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点。文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决方案。使用此解决方案,可根据测试要求,在较短时间内开发出MCU测试程序,节约测试开发成本。

关键词：单片机 mcu测试 测试向量 

单位：集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所