首页 > 期刊 > 电子测试 > 红外LED芯片的断裂失效研究 【正文】
摘要:本文重点研究了红外LED芯片断裂的失效现象,通过扫描电子显微镜(SEM)排查芯片是否存在暗裂,通过DSC测试发现失效品的环氧树脂存在固化不充分的问题,从而找到了产品失效的根本原因。
关键词:红外led 死灯失效 芯片断裂
单位:厦门华联电子股份有限公司; 福建厦门361000
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