摘要：传统测厚系统中采用工控机或PLC，数据处理慢，人机交互性差。针对这些缺点，对AT mega 16单片机在板材测厚仪上的应用进行研究，并比较了传统的以工控机为核心的电控系统与以AT mega 16单片机为电控核心的系统的优缺点。详细介绍了测厚仪电控系统的组成和原理，同时对基于Delphi的测厚数据的处理方法进行了说明。实践表明，该系统控制结构简单，有较高的运行效率和可靠性。

关键词：x射线 测厚仪 delphi avr 

单位：中南大学机电工程学院 湖南长沙410083