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金属微粒对GIS中绝缘子冲击闪络特性的影响

张璐; 王森; 孙蕾; 郭安祥; 张乔根; 王荆 高电压技术 2018年第09期

摘要:高电压等级电力系统中,特快速瞬态过电压(VFTO)引起的GIS绝缘事故日益严重。为探究冲击电压下绝缘子沿面闪络特性和机理,研制了陡前沿冲击试验装置。研究了微粒附着位置及微粒尺寸对绝缘子冲击闪络特性的影响规律。结果表明:正常绝缘子在VFTO下闪络电压较雷电冲击闪络电压高;工程运行气压下,500 k V正常绝缘子VFTO闪络电压较雷电冲击高13%,附着微粒绝缘子的VFTO闪络电压会比雷电冲击闪络电压低近10%。附着微粒位于近高压导体侧时绝缘子闪络电压最低;微粒位于盆式绝缘子沿面一定位置时,随其长度增加,绝缘子闪络电压降低,当微粒大于一定临界长度时,负极性VFTO闪络电压低于负极性雷电冲击闪络电压。VFTO下,附着微粒绝缘子的沿面闪络可用先导和"逆放电"机理来解释。空间电荷积聚和能量注入是形成先导放电的必要条件,高频位移电流和"逆放电"促进了绝缘子沿面闪络过程。

关键词:气体绝缘开关设备特快速瞬态过电压绝缘子金属微粒闪络

单位:国网陕西省电力公司电力科学研究院; 西安710100; 中国电建集团西北勘测设计研究院有限公司; 西安710065; 西安交通大学电气工程学院; 西安710049

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