摘要：气体绝缘金属封闭输电线路（gas-insulated transmission line，GIL）绝缘子在直流电压长期作用下．会积聚表面电荷，引起绝缘子沿面闪络电压降低。导致闪络事故。因此研究绝缘子在长期直流耐受下的表面电荷积聚现象，对气-固界面在直流电压下的电荷积聚机理进行分析，建立更为完善的表面电荷积聚模型，具有重要的理论意义和工程价值。笔者基于3种已有的表面电荷积聚模型、分界面电荷弛豫方程和更为普适的稳态电荷密度方程，利用微元法对盆式绝缘子表面电荷分布进行了数值计算。结果表明：分界面电荷弛豫方程能够近似描述电荷积聚的动态过程；稳态电荷密度方程揭示了电荷积聚的必然性。且能够在不同条件下退化为已有的3种积聚模型；介质分界面的电荷分布与外加电场、气体与固体的介电常数和电导率密切相关。

关键词：电荷积聚模型 电荷弛豫方程 稳态电荷密度方程 数值计算 

单位：西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室; 西安710049; 中国电力科学研究院; 北京100192