摘要：为了探究温度和湿度对掺杂纳米氧化铝的聚酰亚胺（PI）薄膜耐电晕性能的影响，文中通过原位聚合法制备了氧化铝粒径为20nm的聚酰亚胺／氧化铝（PI／Al2O3）复合薄膜，在高频方波脉冲下进行纯膜和纳米膜的耐电晕实验。运用扫描电镜对电晕老化前后的薄膜形貌进行分析。实验结果表明：同一电压下，纳米膜耐电晕性能优于纯膜。纳米粒子可改变电荷传输通道，并浮于聚合物表层阻挡进一步侵蚀。随着温度升高。聚合物降解产生的气体分布在基体中，易造成电场畸变而加剧侵蚀，导致薄膜寿命缩短；且纳米膜热导率高于纯膜．故高温环境中耐电晕性能较好。随着相对湿度增大，纳米膜耐电晕寿命先增大后减小，主要是因为相对湿度较低时，水分可在纳米粒子周围形成“水壳”，增大了纳米粒子间重叠区域，增加了电荷消散传输通道：而相对湿度较高时，聚酰亚胺分子水解产生大量离子基团及小分子，造成电场畸变加剧电晕侵蚀作用更大。

关键词：聚酰亚胺 耐电晕 

单位：西南交通大学电气工程学院; 成都610031