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ALT在电子产品中的应用分析

李军 王玉梅 环境技术 2012年第05期

摘要:加速寿命试验是预测产品可靠性的重要方法,在实践中得以广泛应用。本文简要分析加速寿命试验的原理,并探讨它在电子产品中的应用。

关键词:电子产品可靠性加速寿命试验

单位:中国工程物理研究院电子工程研究所 四川绵阳621900

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环境技术

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