摘要：介绍LED产品常见的失效分析手段，主要包含外观检查、电性能测试、X-Ray透视检查、开封检查、金相切片分析、扫描电镜和能谱分析等手段，并结合实际案例对几种方法进行描述。

关键词：led 失效分析 开封 金相切片 扫描电镜 

单位：深圳市计量质量检测研究院 深圳518055