首页 > 期刊 > 计算机工程与科学 > 用于k测试的BIST测试向量生成器 【正文】
摘要:检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的BIST模块。实验证明,该方法用于瞬态电流测试是有效的。
关键词:cmos电路 k测试 内建自测试 bist模块 测试向量生成器
单位:湖南大学计算机与通信学院,湖南长沙410082
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