摘要：随着芯片设计、生产环节的增多,芯片中存在硬件木马的可能性越来越高,对于安全性要求较高的芯片就需要对其进行硬件木马检测.反向解剖芯片并将其与原始GDSII文件进行一致性比对是检测芯片是否被植入硬件木马的主要方法之一.而从GDSII文件生成与反向解剖芯片的照片一一对应的图片（后面统称为GDSII图片）是木马分析的重要步骤,为此提出了两点定位算法对GDSII图片进行分割;同时,针对芯片照相和拼接过程中存在图片信息位置偏移的问题,提出了一种基于偏差统计的校正算法.经过工程实际应用证明,该算法较好地校正了GDSII图片与芯片照片的偏差,消除了因为图片信息位置偏移所带来的影响.

关键词：gdsii 图片 生成 校正 

单位：湖南大学信息科学与工程学院 湖南长沙410082 国防科学技术大学计算机学院 湖南长沙410073