摘要：以陕西产富士苹果为试验材料,利用X射线电子计算机扫描技术,测定了从不同高度下落苹果CT值的变化规律.试验结果表明,受机械损伤的苹果,在相同的扫描层上,苹果的CT值随贮藏时间增加而降低.且苹果受机械损伤程度越高,苹果的CT值越低.随着扫描层位置与撞击点距离的增加,未受损伤苹果的CT值略有下降;而受机械损伤苹果的CT值明显上升.且随着贮藏时间的变化,苹果CT值随受损伤程度的变化规律有所不同.

关键词：损伤 苹果 ct 检测 

单位：金华职业技术学院机电工程学院; 浙江省金华市321007; 浙江大学生物系统工程与食品科学学院; 杭州市310029