首页 > 期刊 > 农业机械学报 > 杏低温薄层干燥试验与建模 【正文】
摘要:在较低温度下采用旋转组合设计对杏进行了薄层干燥试验,考察了温度、风速对杏干燥特性的影响。试验结果表明在一定范围内温度是影响干燥速率的主要因素,通过试验值回归,确定杏在较低温度下的干燥模型为Wang-Singh方程,且模型系数与温度、风速有关。试验值与模型预测值比较说明,该模型能较好地描述干燥过程中杏的水分比与干燥时间的关系。
关键词:杏 薄层干燥 数学模型 试验
单位:中国包装和食品机械总公司 北京100083
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