摘要：为了探索利用介电谱无损检测采后梨内部品质的潜力，采用同轴探头技术测量了采摘于4个果园的310个“砀山酥”梨在采后8周贮藏期间20～4500MHz间201个频率点下的相对介电常数和介质损耗因数；分别以可溶性固形物含量（SSC）、硬度和含水率作为内部品质指标，基于x-y共生距离的样本划分法确定了校正集样本233个和预测集样本77个。采用连续投影选法（SPA）从全介电谱中分别提取出了15个、14个和15个用于预测SSC、硬度和含水率的特征变量；建立了基于全介电谱和SPA提取的特征变量预测SSC、硬度和含水率的最小二乘支持向量机（LSSVM）、极限学习机和BP神经网络模型。结果指出，基于全介电谱的LSSVM模型具有最好的SSC决定性能和良好的预测能力，其校正集和预测集相关系数分别为0．974和0．931，校正集和预测集均方根误差分别为0．592°Brix和0．868。Brix，剩余预测偏差为2．65；基于SPA的LSSVM模型可粗略预测含水率；但是所有模型对硬度的预测能力很差。研究结果表明，介电谱结合LSSVM可用于无损检测梨的SSC和含水率，但尚难用于检测梨的硬度。

关键词：梨 内部品质 介电特性 无损检测 

单位：西北农林科技大学机械与电子工程学院 陕西杨凌712100