摘要：根据不同Cu^2＋胁迫梯度下玉米叶片光谱及叶片中Cu^2＋含量数据,利用经验模态分解（EMD）获取不同胁迫梯度下叶片光谱的各阶本征模态函数（IMF）,选IMF4进行HHT包络谱分析,研究了玉米叶片在不同Cu^2＋胁迫梯度下光谱的Hilbert包络谱变化特征与污染程度预测方法。通过构建包络谱峰值指标（E1）和包络谱峭度系数（E2）特征参量,分析叶片在不同Cu^2＋胁迫梯度下的包络谱变化;同时基于包络谱特征参量值与叶片中Cu^2＋含量的相关性分析和逐步回归统计,建立了玉米叶片重金属污染的Cu^2＋含量的单、双因素变量预测模型。实验结果表明：不同Cu^2＋胁迫梯度下,玉米叶片光谱的包络谱为分布在100 Hz频率以内的连续谱;E1和E2值均表现出与叶片中Cu^2＋含量呈正相关的变化趋势,两个包络谱特征参量值都在Cu（150）位置达到最大值;由于E1和E2值与叶片中Cu^2＋含量都具有良好的相关性,可把E1和E2作为监测玉米重金属污染预测指标。根据E1、E2单因素及双因素变量构建的Cu^2＋含量预测模型应用结果比较,表明E1、E2双因素变量构建的模型具有最优的预测能力。

关键词：玉米叶片 铜污染 包络谱 特征参量 

单位：中国矿业大学(北京)煤炭资源与安全开采国家重点实验室; 北京100083; 中国矿业大学(北京)地球科学与测绘工程学院; 北京100083; 安徽理工大学测绘学院; 淮南232001; 华北理工大学; 唐山063210