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密度泛函方法对SiO分子基态(X^1∑^+)势能函数的研究

徐国亮 吕文静 肖小红 张现周 刘玉芳 朱遵略 孙金锋 物理学报 2008年第12期

摘要:利用密度泛函B3P86方法,分别选用STO-3G,D95^**,6-311G,6-311++G,6-311++G^**,cc—PVTZ基组对SiO分子基态(X^1∑^+)进行结构优化计算.通过比较得出,cc—PVTZ基组为对SiO分子基态(X^1∑^+)进行结构优化最优基组的结论.使用密度泛函B3P86方法,选用cc-PVTZ基组进行单点能扫描,用正规方程组拟合SiO分子基态(X^1∑^+)的Mtrrrell-Sorbie函数,得到解析势能曲线.最后,由得到的解析势能函数计算了相对应的光谱常数(Be,ae,ωe和ωeχe),并与实验值进行了比较.

关键词:b3p86sio势能函数光谱常数

单位:河南师范大学物理与信息工程学院 新乡453007

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