摘要：在兰州重离子加速器国家实验室分别测量了H＋，He2＋，Ar11＋和Xe20＋离子轰击Ta表面过程中辐射的X射线谱，并得到了Ta特征X射线谱中Mγ（M3N5）和Mαβ（M4，5N6，7）线的强度，即Ⅰγ和Ⅰαβ．分析结果表明，强度比值Ⅰγ/Ⅰαβ随着入射离子原子序数的增加而显著增加，这是由于碰撞过程中Ta原子的多电离效应使M3支壳层的荧光产额ω3产生了显著增强．

关键词：x射线 荧光产额 高电荷态离子 多电离效应 

单位：中国科学院近代物理研究所 兰州730000 西安交通大学理学院 西安710049 咸阳师范学院物理与电子工程学院 咸阳712000