摘要：在实验室HPGe探测器测量分析氙气样品过程中需要用到相对方法进行分析，然而由于放射性氙同位素半衰期较短，制作相应的标准气体比较难，给谱仪系统刻度带来困难．针对该问题，提出使用混合面源模拟刻度四种氙同位素气体源的效率，并提出将积分中值定理应用到面源刻度实验过程，大大简化了中间流程，提高了测量的准确性．利用氙分离纯化系统在高氡环境下采集样品，获得了天然放射性130xe气体y谱，通过计算得到其活度浓度．积分中值位置处的混合面源刻度结果和气体源刻度结果一致，说明本文提出的面源刻度技术及积分中值定理的思想在HPGe探测器效率刻度测量分析中是有效可行的．

关键词：面源 无源效率刻度软件 效率刻度 

单位：清华大学工程物理系 粒子技术与辐射成像教育部重点实验室 北京100084 西北核技术研究所 辐射探测研究中心 西安710024