摘要：针对可调谐半导体激光吸收光谱一次谐波信号中具有背景信号及较大的基线信号，提出一种新型的背景消除与基线校正的处理方法．分析了一次谐波背景中的激光器相关强度调制信号，电子学噪声和光学干涉条纹，采用无吸收谱线区域检测谐波方法消除背景信号．给出了激光器不同工作温度时的电流和强度之间的关系曲线，由此设计出消除背景后剩余基线的校正方法．文中给出了背景搜索方法的原理以及LabView软件流程图．设计了检测氟化氢气体的实验系统，根据谱线选取原则确定吸收谱线为1312．59nm，设置激光器的工作温度为27．0℃，对应的背景温度为30．2℃．一次谐波信号经过背景消除和基线校正后，信号的畸变得到明显改善，基线得到校正，验证了该方法在激光器其他工作温度（26．7—27．2）是有效的，并对HF气体浓度精度的改善进行了定量分析，为一次谐波信号的后续处理提供了方便．

关键词：可调谐半导体激光吸收光谱 一次谐波 背景消除 基线校正 

单位：天津大学精密仪器与光电子工程学院 天津300072 天津科技大学电子信息与自动化学院 天津300222