摘要：采用光学频率梳的高精度绝对距离测量技术在航空航天、科学研究和工业生产等领域都发挥着重要作用．提出一种利用光学频率梳技术，通过检测光强实现绝对距离测量的新方法，研究了光学频率梳发出脉冲的时间相干性，分析了光强与被测距离之间的关系、干涉条纹峰值点位置与被测距离之间的关系．建立了基于Michelson干涉原理的测距系统，通过测量光强信息得到被测距离．以高精度纳米位移平台的位移量作为长度基准进行了绝对测距实验，在每个被测距离点都重复进行了10次实验，将10次实验测得的光强值取平均后用于距离的计算．实验结果表明，该方法可以实现绝对距离测量，在10μm测量范围内，最大误差为47nm．因此，该方法可以应用于大尺寸高精度的绝对距离测量．

关键词：光学频率梳 绝对测距 光强 

单位：天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072 中国计量科学研究院时间频率计量研究所 北京100013