摘要：外腔反馈半导体激光器在合适的反馈强度下将呈现混沌态，其输出的激光混沌信号可作为物理熵源获取物理随机数序列．着重研究了外腔反馈强度对最后获取的二元码序列的随机性的影响．数值仿真结果表明，随着反馈强度的增加，外腔反馈半导体激光器输出的混沌信号的延时时间特征峰值呈现先逐渐减小再逐渐增大的过程，而对应的排列熵特征值呈现先增大、后缓慢降低的过程，即存在一个优化的反馈强度可使输出的混沌信号的延时特征得到有效抑制且复杂度高．利用NIST Special Publication 800—22软件对基于不同反馈强度下外腔半导体激光器输出的混沌信号所产生的二元码序列的随机性进行了相关测试，并讨论了反馈强度的大小对测试结果的影响．

关键词：外腔反馈半导体激光器 反馈强度 混沌 随机数 

单位：西南大学物理科学与技术学院 重庆400715