摘要：机内测试(BIT)系统的虚警率是影响BIT正常使用的主要问题之一.与电子系统相比,由于机电设备的功能和结构的复杂性使得其测试性问题更复杂,其中的虚警问题更加突出.研究以机电设备BIT系统为背景,从传感层对虚警率的影响因素着手,进行系统分析.首先基于BIT系统传感层的物理特性分析虚警率的影响因素并进行归纳和提炼;其次,提出BIT虚警率的分析模型,基于该模型分析结果,为降低BIT系统中的虚警率,提出嵌入BIT传感层数据异常检测和恢复功能的BIT改进模型,并分析了该模型的有效性,导出改进模型中影响虚警率的主要特性参数.最后在某船舶动力装置BIT系统中进行了初步验证.

关键词：虚警率 传感层 bit系统 恢复功能 改进模型 

单位：空军装备研究院雷达与电子对抗研究所; 北京; 100085; 国防科技大学机电工程研究所; 长沙; 410073