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大规模MCM基板互连探针测试和路径优化

许川佩; 许君华; 李智; 莫玮 仪器仪表学报 2006年第01期

摘要:已有的路径优化算法在MCM基板互连测试中已经发挥了一定的作用,但由于MCM的高密互连特性,使得测试变得更加复杂和困难,因此人们希望能引入新的方法与思路,以解决MCM基板互连测试的路径优化问题。将蚁群算法应用到互连测试探针路径优化问题当中,根据MCM基板互连测试的特点,建立探针路径优化的模型。提出一种针对大规模MCM基板互连探针测试的方法,首先将MCM基板进行分片,然后对每片进行优化,最后将优化结果连接在一起,成为一条完整的路径。实验结果表明,蚁群算法能在较短的时间内得到更优的路径。

关键词:mcm基板互连测试探针测试蚁群算法

单位:西安电子科技大学机电工程学院; 西安710071; 桂林电子工业学院电子工程系; 桂林541004

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