摘要：在IC产业链中，测试是必不可少的环节之一，而如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。本文基于伺服环方法和权位点测试法提出了一种A／D转换器静态参数的低成本测试方法，并在自主开发的JC-3196A集成电路测试系统上实现。该方法具有普遍的适用性，对降低数模混合信号集成电路的测试成本具有重要意义。

关键词：模数转换器 静态参数 伺服环 权位点 低成本测试 

单位：北京大学信息科学技术学院微电子系; 北京100871; 北京自动测试研究所; 北京100088; 北京大学深圳研究生院; 深圳518055