摘要：为了快速检测土壤的重金属污染程度，设计了一种X荧光测试仪。该测试仪采用Si—PIN半导体X射线探测器作为检测传感器、ARM$3C2440A作为控制与数据处理核心，并使用WXCAT35-TG3#001F显示／触摸屏控制测试仪显示测量结果。测试仪可通过RS-232接口与Pc机进行数据通信，也可现场快速分析测试土壤中重金属As、Cr、Zn、Cu、Pb、Ni等的含量。实际应用结果表明，测试仪工作可靠、运行稳定，实现了土壤重金属污染的快速检测。

关键词：x荧光 arm 触摸屏 脉冲信号放大器 峰值检测 

单位：苏州工业职业技术学院电子工程系 江苏苏州215104 苏州市电子产品检验所有限公司 江苏苏州215104