摘要：研究吸附剂对在局部放电下sR分解组分的影响是探究利用分解组分诊断SR电气设备内部早期绝缘缺陷的重要内容。为此，在建立的特定吸附实验研究平台上，选用SR电气设备中最常用的活性氧化铝和kdhF．03型分子筛吸附剂，对局部放电（partialdischarge，PD）下产生的4种sR稳定分解特征组分（CF4、C02、S02F2和SOF2）进行吸收特性研究，利用气相色谱仪和质谱联用仪定时检测气室内气体残余量，结合吸附量和等温吸附线对吸附机制和作用过程进行了深入分析。结果表明：两种吸附剂几乎不吸附CF6，对C02略有吸附，但对S02F2和SOF2有较强的吸附能力，吸附量由多到少依次为SOF2〉S02F2〉C02〉CF4。因此，在利用特征组分含量及变化规律辨识SR气体绝缘设备的绝缘缺陷时，必须考虑吸附剂的影响。实验也发现选用SOF2＋S02整体作为辨识SF6设备内部绝缘缺陷的一种特征组分更有效。

关键词：吸附剂 sf6分解组分 绝缘缺陷 分子筛 吸附 

单位：输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学) 重庆市沙坪坝区400044 海南电网公司 海南省海口市570100