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高斯分布激光前向转印Cu薄膜形貌及机理

刘威 窦广彬 王春青 田艳红 叶交托 中国激光 2013年第03期

摘要:激光诱发前向转印技术,作为一种微加工手段,具有制备微小结构的能力,目前已经成为微细加工领域的研究热点。通过改变高斯分布激光脉冲功率密度,进行了Cu薄膜在石英玻璃表面的转印实验,并对转印沉积薄膜进行了光学显微镜、扫描电子显微镜(SEM)和x射线光电子能谱(XPS)表面氧化状态分析,探讨了激光脉冲功率密度与沉积薄膜的尺寸、特殊形貌以及薄膜厚度均匀性的关系,并在此基础上研究了激光转印Cu薄膜的机理。结果表明,当激光平均脉冲功率密度达到1×10^5W/cm。时,Cu薄膜的转印才可以发生。随着激光脉冲功率密度的增加,转印Cu薄膜尺寸增加,并由薄膜转变为圆环形,最终尺寸达到一定值。激光转印薄膜表层10nm以下,基本上没有氧化发生。薄膜附着在基板上,连接紧密,并未观察到明显的扩散迹象。

关键词:薄膜形貌及界面激光诱发前向转印微结构制造

单位:哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室 黑龙江哈尔滨150001 英国帝国理工大学电子与电气工程系 伦敦sw72BT

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