摘要：当利用相位测量轮廓术进行三维物体表面重建时，如果物体表面反射率很大，通过照相机捕获的光栅图像会发生光强度饱和现象，光栅光强度饱和会造成三维重建时的相位误差。对因光栅光强度饱和而导致的相位误差进行研究，并建立每个像素点各帧光强度值的数学模型，提出了一种利用末饱和光强值直接求解相位的新方法。通过仿真和实验分别验证了提出的算法的有效性。仿真结果表明，采用修复算法计算的相位，其误差的均方根值比修复前减小了92．5％；实验中利用该算法求得的相位误差，其均方根值比修复前的相位误差均方根值最多减小了82．8％。

关键词：测量 相位测量轮廓术 误差抑制算法 光强度饱和 相位误差 

单位：四川大学电气信息学院 四川成都610064 KLA-Tencor Milpitas CA 95035 USA