摘要：目的观察高热对局灶性脑缺血再灌注大鼠缺血灶5-脂氧酶（5-Lipoxygenase,5-LO）表达的影响,探讨高热对脑缺血再灌注后的影响及机制。方法通过线栓法制作大鼠大脑中动脉缺血再灌注模型,缺血时间为2 h。动物随机分为假手术组（Sham）、缺血再灌注（cerebral ischemic reperfusion,CIR）后正常体温组（normathermia,NT）、缺血再灌注后高热组（hyperthermia,HT）。对大鼠进行神经功能缺损评分和计算梗死体积;使用免疫组化法检测5-LO的表达。结果 （1）大鼠CIR HT组12 h2、4 h、48 h后神经功能缺损评分、梗死体积和缺血灶周边5-LO免疫阳性神经元细胞分别较NT组相应时间点明显增加（P〈0.05）;（2）大鼠CIR后梗死体积与缺血灶周边5-LO免疫阳性神经元细胞数明显相关（r=0.694,P〈0.05）。结论大鼠CIR后48h内高热可加重脑损伤,其机制可能与高热诱发5-LO在缺血灶周边过度表达有关。

关键词：脑缺血再灌注 高热 

单位：湖北潜江市中心医院 433100 安徽芜湖市第一人民医院 241000 皖南医学院弋矶山医院 芜湖241001