摘要：基于IP核的设计思想推动了SOC设计技术的发展，却使SOE的测试数据成几何级数增长、针对这一问题，本文提出了一种有效的测试数据压缩算法——变游程（Variable-Run-Length）编码算法来减少测试数据量、降低测试成本、该算法编码时同时考虑游程0和游程1两种游程，大大减小了测试数据中长度较短游程的数量，提高了编码效率、理论分析和实验数据表明，变游程编码能取得较同类编码算法更高的压缩效率，能够显著减少测试时间、降低测试功耗和测试成本．

关键词：变游程编码 测试压缩 测试功耗 

单位：哈尔滨工业大学自动化测试与控制系; 黑龙江哈尔滨150001