摘要：测试集优化是数字电路测试的一个基本问题．本文提出了一种基于遗传排序的测试集优化方法，采用遗传算法对测试集的“矢量-故障”矩阵的行向量排列顺序进行优化，并采用行列消去法作为适应度评估方法．实验结果表明，基于遗传排序的测试集优化方法有效地减少了测试矢量的数目，而且保证了所得的测试集中不包含冗余测试矢量．

关键词：测试集优化 遗传算法 行列消去法 

单位：哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所; 哈工大科学园3033信箱; 黑龙江哈尔滨150080