摘要：本文基于四事件周期波形模型，提出了一般动态门、LO-CMOS、NTP动态门和N-C^2MOS锁存器正确工作的时序约束。将混合时序分析方法应用于动态电路的延时计算，提出了动态门延时测试波形的生成算法，能有效处理多个输入同时翻转对延时的影响。本文的研究成果已在SpiceTime中实现，并且应用于一个32位动态加法器的设计，取得了良好效果，如果不考虑伪路径的影响，求值延时和预充延时的最大误差分别为3．62％和8．26％。

关键词：动态电路 时序验证 混合时序分析方法 测试波形生成 

单位：国防科技大学计算机学院; 湖南长沙410073