首页 > 期刊 > 电子测试 > 技术前瞻——了解误差来源与类型:高分辨率A/D转换器展现更高性能 【正文】
摘要:本期技术前瞻继续与大家一起畅游技术海洋。德州仪器专家精辟分析误差来源及其类型,并在高分辨率A/D转换器设计中提出重要建议。技术探勘单元中,飞思卡尔半导体专家亦对A/D转换器投以关注,理论与实践结合,讨论A/D转换器输入端电容变化对整个电路设计效果的影响。另有测试与自动化单元中多个精彩内容,一读方知其妙。
关键词:输入端 高分辨率 德州仪器 电路设计 半导体
单位:德州仪器
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