首页 > 期刊 > 电子测试 > 可信平台模块TPM安全芯片的性能测试 【正文】
摘要:本文首先介绍了TPM的结构,在此基础上探讨了TPM芯片性能.测试的有关内容。最后对当前主要的TPM芯片的性能进行了比较。
关键词:可信计算平台 tpm 性能测试
单位:信息工程大学电子技术学院研究所; 郑州450004
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
相关期刊
省级期刊
¥400.00