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基于ATE的FPGA测试方法

吉国凡; 赵智昊; 杨嵩 电子测试 2007年第12期

摘要:本文以Xilinx公司基于SRAM的FPCAXC4010为研究对象,将FP-GA配置成两种电路来完成对可编程逻辑模块(CLB)的测试,并阐述了如何在Teradyne商用ATE(Automatic Test Equipment)J750上实现FPGA的在线配置及测试,为FPGA面向应用的测试提供一种有效的方法。

关键词:fpga测试clb配置

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电子测试

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