首页 > 期刊 > 电子测试 > 基于模拟集成电路BIST的ARMA模块设计 【正文】
摘要:针对模拟集成电路在线测试困难的特点,本文基于BIST结构对模拟集成电路的测试提出了一种新的测试方案,这种算法在测试电路中易于实现,并且容易嵌入到待测芯片中,为模拟集成电路可测试性设计提出了一种新的测试结构和测试算法。
关键词:模拟集成电路 bist arma模块
单位:北方工业大学信息工程学院微电子中心 北京100041 北京自动测试技术研究所 北京100088
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