摘要：本文以TI公司的DSP5509A为例，介绍了在ATE上开发DSP芯片的测试程序的思路和方法。本文论述的DSP功能模块的测试算法，指令测试方法，脱机开发DSP功能诊断程序的方法已经在国产BC3193V50集成电路测试系统上运用，结果表明是有效的。其中针对DSP功能模块的测试算法以穷举为出发点，具体实现方式包括基本测试模块的反复调用，同模块内所有属性的遍历测试，不同模块间属性的交叉组合测试。最后本文论述了测试程序在不同测试系统移植中需要注意的问题。

关键词：dsp 集成电路测试系统 测试图形 指令测试 测试程序移植 

单位：北京自动测试技术研究所 北京100088