首页 > 期刊 > 电子测试 > 基于C8051F410数字集成电路测试仪的设计 【正文】
摘要:开发了一种数字集成电路测试仪,该测试仪以C8051F410微控制器为核心,用户可针对不同待测芯片来选择+3.3V或+5V电源供电,操作界面与测试结果通过液晶显示屏进行人机交互,能够对常用的74系列数字集成电路芯片进行快速、稳定的功能性测试。
关键词:数字集成电路 测试仪 c8051f410 液晶显示
单位:柳州铁道职业技术学院电子技术学院
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