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基于ATCA架构的并发SRIO测试系统设计

孟珞珈 电子测试 2016年第9X期

摘要:本文通过对SRIO总线板卡在量产过程中的功能、性能集成测试需求进行分析,并结合当前测试技术发展趋势,提出一种基于ATCA架构的SRIO自动测试系统实现方案,以解决SRIO总线板卡在量产测试时,由于固定SRIO端口号、网络IP以及MAC地址,导致无法直接进行并发测试的问题。该方案采用了先进的系统架构,支持并发测试,能够满足产品量产测试需求,有效提高生产测试效率,并具备良好的通用性和扩展性,可作为基础性测试平台进行推广应用。

关键词:srio测试系统atca架构并发测试

单位:中国电子科技集团公司第三十研究所

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