摘要：塑封光耦作为信号传输中的隔离器件而广泛应用于武器装备中,其贮存寿命影响着武器装备能不能正常投入使用,因此开展光耦贮存寿命评价方法研究是一项重要的工作。针对光耦目前缺少相应的寿命模型,贮存失效机理不清等问题,本文基于POF建立塑封光耦寿命模型来评价正常贮存环境下的寿命。在全面分析塑封光耦的击穿机理的基础上,建立光耦寿命模型,并通过模型计算TLP250型号的塑封光耦正常5C存环境下的寿命,为塑封光耦的寿命评价提供了依据。

关键词：塑封光耦 贮存寿命 寿命模型 失效机理 

单位：北京航空航天大学可靠性与系统工程学院; 北京100191