首页 > 期刊 > 电子测试 > 基于肖特基式场发射阴极的高分辨X射线显微技术开发进展 【正文】
摘要:X射线显微镜具有分辨率高、透视成像等特点,成为不可替代的无损检测手段。国外近年来出现了一种基于肖特基式场发射阴极的X射线显微镜,其分辨率可达0.1m以内。本文系统分析了该显微镜的工作原理,并对显微镜的未来发展趋势进行了展望。
关键词:x射线显微镜 肖特基式场发射阴极
单位:中国电子科技集团公司第三十八研究所; 安徽合肥230088
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